精測電子獲得發明專利授權：“一種基於雲邊協同的缺陷檢測系統及方法”

證券之星消息，根據天眼查APP數據顯示精測電子（300567）新獲得一項發明專利授權，專利名爲“一種基於雲邊協同的缺陷檢測系統及方法”，專利申請號爲CN202411596267.1，授權日爲2025年1月17日。

專利摘要：本發明公開了一種基於雲邊協同的缺陷檢測系統和方法，該系統包括：客戶端、雲端、邊緣端；客戶端，用於獲取用戶上傳的原圖像；邊緣端包括一個第一基礎缺陷檢測模型和至少一個第二定製化缺陷分類模型；本發明採用基礎大模型和定製化小模型結合的方案，在邊緣端部署一個包含所有缺陷檢測的基礎缺陷檢測模型，以及多個分類模型組成的定製化缺陷分類模型，邊緣端只需佈置模型，根據佈置的模型進行實時檢測，上傳標註樣本和檢測結果，將複雜的模型訓練工作交給雲端，減少了邊緣端硬件建設的成本，並且由於本發明的模型架構是基於模塊化的設計，可以根據客戶的需求僅僅定製和更新定製化缺陷分類模型，因此具有很高的靈活性。

今年以來精測電子新獲得專利授權4個，較去年同期減少了73.33%。結合公司2024年中報財務數據，2024上半年公司在研發方面投入了2.95億元，同比增3.71%。

數據來源：天眼查APP

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