本源量子申請量子芯片的測試方法、裝置及量子計算機專利，能夠在能譜實驗結果無明顯峰以及存在干擾峰時仍準確獲取待測量子比特的比特頻率

金融界2024年10月28日消息，國家知識產權局信息顯示，本源量子計算科技（合肥）股份有限公司申請一項名爲“量子芯片的測試方法、裝置及量子計算機”的專利，公開號 CN 118818252 A，申請日期爲 2023 年 4 月。

專利摘要顯示，本發明提供了一種量子芯片的測試方法、裝置及量子計算機，所述測試方法包括：獲取所述量子芯片上一待測量子比特執行至少兩次能譜實驗的數據，每次能譜實驗的數據包括量子態調控信號的多個頻率值和與其一一對應的讀取腔的 S21 參數幅值，其中，所述至少兩次能譜實驗中，所述量子態調控信號的多個頻率值相同讀取信號的頻率不同獲取所述至少兩次能譜實驗中，所述量子態調控信號的多個頻率值對應的所述讀取腔的 S21 參數幅值的理論值；基於所述至少兩次能譜實驗的數據以及全部的所述理論值獲取所述待測量子比特的比特頻率。本發明的技術方案能夠在能譜實驗結果無明顯峰以及存在干擾峰時仍準確獲取待測量子比特的比特頻率。

本文源自：金融界

作者：情報員