龍芯中科申請芯片、芯片測試方法、電子設備以及存儲介質專利，大大減少測試成本

金融界 2024 年 9 月 6 日消息，天眼查知識產權信息顯示，龍芯中科技術股份有限公司申請一項名爲“芯片、芯片測試方法、電子設備以及存儲介質“，公開號 CN202410289302.9，申請日期爲 2024 年 3 月。

專利摘要顯示，本發明實施例提供了一種芯片、芯片測試方法、電子設備以及存儲介質，芯片包括第一模塊以及第二模塊，第一模塊與第二模塊通過待測接口相連接，第一模塊以及第二模塊位於不同的功能模塊；待測接口爲芯片中的任意兩個功能模塊之間的數據傳輸接口；第一模塊以及第二模塊分別用於生成相對應的第一測試信號以及第二測試信號；第一模塊用於通過待測接口發送第一測試信號；第二模塊用於通過待測接口接收待測信號，並基於待測信號以及第二測試信號生成檢測結果。無需採用第三方測試設備，大大減少了測試成本。

本文源自：金融界

作者：情報員