汎銓完成矽光子檢測分析佈局 躋身晶圓大廠戰略夥伴

泛銓完成CPO檢測專利佈局 ，成爲晶圓代工廠唯一合作伙伴。圖爲泛銓柳紀綸親自展示竹北營業二廠的分析儀器，將大啖新一波AI商機。記者簡永祥／攝影

31家廠商所成立的矽光子聯盟下月3日將舉行成立大會，成員中唯一切入矽光子檢測分析的泛銓科技董事長柳紀綸表示，泛銓在國內主要晶圓代工成立團隊切入矽光子領域時，即投入協助研發，經過多年的努力，目前已建構整套矽光電檢測分析所需工法，也成爲這家主要晶圓代工廠唯一合作伙伴。

他表示，相關矽光子檢測分析業務下半年陸續展開，明年更將隨客戶密集推動相關量產前試驗分析，挹注營收和獲利表現。

柳紀綸表示，隨着AI快速發展，未來AI運算中心算力不斷提高，甚至可能同時要求好幾個不同的位置的機櫃同時運作，因而除了提升晶片本身的運算效能、降低功耗，更要大幅縮短傳輸線路與各機櫃的距離，矽光子因具備高頻寬、低功耗、廣泛的傳輸距離和節省成本等特點，成爲爲克服能源效率及 AI 運算能力的有效解方。

英特爾是最早提出矽光子解決架構及發展此一技術廠商，不過在目前各AI和網通晶片大廠似乎已不願意將這麼極具關鍵的晶片交由英特爾生產，都等着晶圓代工龍頭臺積電推出這個技術的代工服務。

臺積電在幾年前也成立專案小組投入矽光子整合技術，隨着今年在北美技術論壇宣示矽光子技術即將量產的進度，讓此技術成爲業界矚目焦點。

柳紀綸表示，矽光子難度相當高，成爲解決摩爾定律瓶頸的關鍵技術。光學元件以矽製程整合成晶片，訊號由電轉爲光，傳輸介質由銅線轉爲光波導（waveguide），解決訊號衰減及散熱等問題。

就因爲以光子取代電子在矽晶片傳遞訊號，由多個光學元件整合成單一積體光路，以光波導元件取代銅線作爲光子傳輸通道，技術與過去截然不同，必須精準找到矽光偵測定位、漏光點或測矽光是否衰退，因此必須建構整套從矽光偵測定位，到矽光衰減量測、矽光斷路偵測等矽光量測方案及失效分析技術。

柳紀綸強調，泛銓深入瞭解晶圓廠客戶矽光子研發中需被協助的問題，找尋可執行分析的設備，建立初階基礎設備規模。經過多年的緊密研發及合作，不僅完整掌握，並且深入分析材料組成及相關製程問題。

其中最爲關鍵是泛銓建立整套矽光子分析所需的工法（ 矽光偵測定位、漏光點矽光衰減量測、矽光斷路偵測等矽光量測方案及失效分析技術），因技術和產能完備，成爲主要晶圓代工廠唯一合作伙伴，並着手佈局全球專利。

柳紀綸表示，因事涉客戶機密，不便透露導入採用這項技術的晶片公司，但會是AI應用領域。泛銓也因整合相關國內多家外設備及建立自行改裝能力，有信心將成爲業界指標並掌握未來矽光子晶片檢測分析商機。